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涂層測厚儀的選型方法

2018-05-25

涂層測厚儀的選型方法
涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性涂層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等) 及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點,是控制和保證產品質量必不可少的檢測儀器,廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。
涂層測厚儀選型方法
用戶可以根據測量的需要選用不同的測厚儀,磁性測厚儀和渦流測厚儀一般測量的厚度適用0-5毫米,這類儀器又分探頭與主機一體型,探頭與主機分離型,前者操作便捷,后者適用于測非平面的外形。更厚的致密材質材料要用超聲波測厚儀來測,測量的厚度可以達到0.7-250毫米。電解法測厚儀適合測量很細的線上面電鍍的金,銀等金屬的厚度。
常規型
對材料表面?;?、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等,在有關國家和國際標準中稱為覆層(coating)。
覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要一環,是產品達到優等質量標準的必備手段。為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
X射線和β射線法是無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業和科研使用zui廣泛的測厚儀器。
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,能使大量的檢測工作經濟地進行。

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